扫描电镜微观结构分析
扫描电镜测试SEM可提供表面结构测试，进行样品微观分析，扫描式显微镜可放大到30万倍以上，可测试项目广泛。
扫描电镜快速检测，SEM现场检测
X射线能谱：入射电子和样品进行非弹性碰撞可产生连续x光和特征x光，前者系入射电子减速所放出的连续光谱，形成背景决定zui少分析之量，后者系特定能阶间之能量差，可藉以分析成分元素。
元素分析：
可以测试的金属元素有： 锂（li）、铍（be）、 钠（na）、镁（mg）、铝（al）、钾（k）、钙（ca）、钛（ti）、钒（v）、铬（cr）、锰（mn）、铁（fe）,钴（co）、（ni）、铜（cu）、锌（zn）、镓（ga）、...
特别推出红外（FIR）、DSC(差视热量扫描仪)、TGA（热失重分析）、TGA-FIR联用、DMA动态力学、塑料导热系数、塑料配方剖析未知物成分分析、激光粒度仪、TEM（透射电镜）、SEM（扫描电镜）的测试。