XRD分析是指X射线衍射分析，通过利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。它将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在晶体内的散射而产生波长改变的现象，称之为X射线衍射。
分析方法包括：
衍射图谱分析、电子密度分析、高峰分析和面积分析。
衍射图谱分析：通过测量衍射光束的强度和角度，可以分析材料内部的院子和分子结构以及形态。
电子密度分析：通过电子密度分析，可以确定晶体中原子的平均位置，找到其化学键和其他有用信息。
高峰分析：根据A/B峰高度比来确定相对标准粉末的衍生图对应的峰。
面积分析：可以得到晶体含量和温度关系之间的关系。
分析标准：
ASTM 3906-2003 八面沸石型包含沸石材料的相对X射线衍射强度的测定用标准试验方法
BS EN 12698-2-2007 和碳化硅耐熔制品结合的氮化物的化学分析 射线衍射(XRD)法
EN 12698-2-2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析 第2部分：X射线衍射(XRD)法
ASTM E2860-2012 使用X射线衍射法测量轴承钢残余应力的标准试验方法
HB 20116-2012 航空发动机叶片表面残余应力的测定X射线衍射法
SN/T 3011.1-2011 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相 第1部分：通则